Tytuł:

Characterization of AIIIBV epitaxial layers by scanning spreading resistance microscopy

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Autor:

Szyszka, Adam ; Ściana, Beata ; Radziewicz, Damian ; Macherzyński, Wojciech ; Paszkiewicz, Bogdan ; Tłaczała, Marek

Współtwórca:

Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja

Temat i słowa kluczowe:

optyka ; scanning spreading resistance microscopy (SSRM) ; spreading resistance ; GaAs ; atomic force microscopy (AFM)

Opis:

Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2, s. 281-288

Wydawca:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2011

Typ zasobu:

artykuł

Format:

application/pdf

Źródło:

<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011 ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska