Title:

Characterization of AIIIBV epitaxial layers by scanning spreading resistance microscopy

Group publication title:

Optica Applicata

Creator:

Szyszka, Adam ; Ściana, Beata ; Radziewicz, Damian ; Macherzyński, Wojciech ; Paszkiewicz, Bogdan ; Tłaczała, Marek

Contributor:

Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja

Subject and Keywords:

optyka ; scanning spreading resistance microscopy (SSRM) ; spreading resistance ; GaAs ; atomic force microscopy (AFM)

Description:

Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2, s. 281-288

Publisher:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Place of publication:

Wrocław

Date:

2011

Resource Type:

artykuł

Format:

application/pdf

Source:

<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link

Language:

eng

Relation:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011 ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Rights:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Access Rights:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Location:

Politechnika Wrocławska