Motyka, Marcin ; Sęk, Grzegorz ; Janiak, Filip ; Ryczko, Krzysztof ; Misiewicz, Jan ; Kosiel, Kamil ; Bugajski, Maciej
Contributor:Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Subject and Keywords:optyka ; superlattice ; photoreflectance ; modulation spectroscopy
Description:Optica Applicata, Vol. 39, 2009, nr 4, s. 897-902
Abstrakt: Publisher:Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Place of publication: Date: Resource Type: Source:<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Language: Relation:Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 39, 2009 ; Optica Applicata, Vol. 39, 2009, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Rights:Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Access Rights:Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Location: