Nocuń, Marek ; Zontek, Joanna ; Kwaśny, Sławomir
Subject and Keywords:optyka ; antifungal thin layer ; sol–gel method ; scanning electron microscopy (SEM) ; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
Description:Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 2, s. 315-322
Publisher:Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Place of publication: Date: Resource Type: Format: Resource Identifier: Source:<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Language: Relation:Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012 ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Rights:Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Access Rights:Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Location: