Title:

An on-line phase measuring profilometry based on modulation

Group publication title:

Optica Applicata

Creator:

Yingchun, Wu ; Yiping, Cao ; Mingteng, Lu ; Kun, Li

Subject and Keywords:

optyka ; on-line inspection ; phase measuring profilometry (PMP) ; Stoilov’s algorithm ; pixel matching ; modulation

Description:

Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 1, s. 31-41

Publisher:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Place of publication:

Wrocław

Date:

2012

Resource Type:

artykuł

Format:

application/pdf

Resource Identifier:

doi:10.5277/oa120103

Source:

<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link

Language:

eng

Relation:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012 ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Rights:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Access Rights:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Location:

Politechnika Wrocławska