Tytuł:

Development and utilization of the nanomarkers for precise AFM tip positioning in the investigation of the surface morphology change

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Autor:

Sikora, Andrzej

Współtwórca:

Urbańczyk, Wacław. Redakcja

Temat i słowa kluczowe:

optyka ; atomic force microscopy ; material science ; environmental tests ; nanolithography ; nanomarker

Opis:

Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 1, s. 163-171

Wydawca:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2013

Typ zasobu:

artykuł

Format:

application/pdf

Identyfikator zasobu:

doi:10.5277/oa130120

Źródło:

<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013 ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska