Modelling of the thin-film structure for the purpose of ellipsometric measurements
Group publication title: Creator:Woźnicka, G. ; Kruszewski, J. ; Gutkowski, M. T.
Contributor:Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Subject and Keywords: Description:Optica Applicata, Vol. 23, 1993, nr 4, s. 275-280
Publisher:Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Place of publication: Date: Resource Type: Source:<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Language: Relation:Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 23, 1993 ; Optica Applicata, Vol. 23, 1993, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Rights:Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Access Rights:Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Location: