Title:

Reflection, transmission and ellipsometric parameters of the multilayer structure using a bi-characteristic-impedance transmission line approach

Group publication title:

Optica Applicata

Creator:

Taya, Sofyan A. ; Abu Nasr, Mustafa H. ; El-Agez, Taher M.

Contributor:

Urbańczyk, Wacław. Redakcja

Subject and Keywords:

optyka ; bi-characteristic-impedance transmission line ; reflectance ; Bragg reflector ; ellipsometry

Description:

Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 4, s. 817-829

Publisher:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Place of publication:

Wrocław

Date:

2013

Resource Type:

artykuł

Format:

application/pdf

Resource Identifier:

doi:10.5277/oa130417

Source:

<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link

Language:

eng

Relation:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013 ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Rights:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Access Rights:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Location:

Politechnika Wrocławska