Tian, Zixia ; Chen, Wenjing ; Su, Xianyu
Contributor: Subject and Keywords:optyka ; phase measurement profilometry ; digital-light-processing (DLP) projector ; error diffusion algorithm ; binary encoded grating
Description:Optica Applicata, Vol. 46, 2016, nr 2, s. 291-303
Publisher:Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Place of publication: Date: Resource Type: Format: Resource Identifier: Source:<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Language: Relation:Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 46, 2016, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Rights:Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Access Rights:Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Location: