Tytuł:

A super depth of field height measurement based on local disparity

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Autor:

Cui, Li ; Liu, Yi ; Yu, Mei ; Jiang, Gangyi ; Fan, Shengli ; Wang, Yigang

Współtwórca:

Urbańczyk, Wacław. Redakcja

Temat i słowa kluczowe:

optyka ; microscopes ; binocular vision ; local disparity map ; depth of field (DOF) ; height measurement

Opis:

Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 2, s. 205-214

Wydawca:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2015

Typ zasobu:

artykuł

Format:

application/pdf

Identyfikator zasobu:

doi:10.5277/oa150207

Źródło:

<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska