Title:

A super depth of field height measurement based on local disparity

Group publication title:

Optica Applicata

Creator:

Cui, Li ; Liu, Yi ; Yu, Mei ; Jiang, Gangyi ; Fan, Shengli ; Wang, Yigang

Contributor:

Urbańczyk, Wacław. Redakcja

Subject and Keywords:

optyka ; microscopes ; binocular vision ; local disparity map ; depth of field (DOF) ; height measurement

Description:

Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 2, s. 205-214

Publisher:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Place of publication:

Wrocław

Date:

2015

Resource Type:

artykuł

Format:

application/pdf

Resource Identifier:

doi:10.5277/oa150207

Source:

<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link

Language:

eng

Relation:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Rights:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Access Rights:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Location:

Politechnika Wrocławska