Title:

Opracowanie metodologii charakteryzacji struktury elektronowej, gęstości stanów i morfologii powierzchni warstw techniką spektromikroskopii DEEM

Title in english:

Development of a methodology for characterisation of electronic structure, density of states and surface morphology of layers by DEEM spectromicroscopy technique

Creator:

Ceballos, Gabriel

Contributor:

Tłaczała, Marek. Promotor ; Grzelakowski, Krzysztof. Promotor

Subject and Keywords:

spektromikroskop DEEM ; mikroskopia elektronowa ; fizyka powierzchni ; struktura elektronowa

Abstrakt:

Celem rozprawy było wykazanie słuszności tezy, mówiącej o możliwości jednoczesnego i skorelowanego obrazowania morfologii powierzchni i odpowiadającej jej lokalnej struktury elektronowej z zastosowaniem rozbudowanego systemu spektromikroskopowego UPS-DEEM.

Publisher:

Politechnika Wrocławska

Place of publication:

Wrocław

Date:

2022

Resource Type:

rozprawa doktorska

Language:

pol

Relation:

Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki, Fotoniki i Mikosystemów

Rights:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Access Rights:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Rights Owner:

Własność autora

Location:

Politechnika Wrocławska