Title:

Depth dependent X-ray diffraction of porous anodic alumina films filled with cubic YAlO3:Tb3+ matrix

Group publication title:

Optica Applicata

Creator:

Serafińczuk, Jarosław ; Pawlaczyk, Łukasz ; Podhorodecki, Artur ; Gaponenko, Nikolai ; Molchan, Igor ; Thompson, George

Contributor:

Urbańczyk, Wacław. Redakcja

Subject and Keywords:

optyka ; PAA ; X-ray diffraction ; AFM ; SEM ; crystallization

Description:

Optica Applicata, Vol. 50, 2020, nr 1, s. 127-134

Publisher:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Place of publication:

Wrocław

Date:

2020

Resource Type:

artykuł

Resource Identifier:

doi:10.37190/oa200110

Source:

<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link

Language:

eng

Relation:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 50, 2020 ; Optica Applicata, Vol. 50, 2020, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Rights:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Access Rights:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Location:

Politechnika Wrocławska