Tytuł:

Utilization of the cyclic interferometer in polarization phase-shifting technique to determine the thickness of transparent thin-films

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Autor:

Kaewon, Rapeepan ; Pawong, Chutchai ; Chitaree, Ratchapak ; Lertvanithphol, Tossaporn ; Bhatranand, Apichai

Współtwórca:

Urbańczyk, Wacław. Redakcja

Temat i słowa kluczowe:

optyka ; polarization phase-shifting technique ; cyclic interferometric configuration ; non-destructive thickness measurements ; transparent thin-films

Opis:

Optica Applicata, Vol. 50, 2020, nr 1, s. 69-81

Wydawca:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2020

Typ zasobu:

artykuł

Identyfikator zasobu:

doi:10.37190/oa200106

Źródło:

<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 50, 2020 ; Optica Applicata, Vol. 50, 2020, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska