Zhang, Wucong ; Dong, Bo ; Zhang, Wei ; He, Zhaoshui ; Xie, Shengli ; Zhou, Yanzhou
Contributor: Subject and Keywords:optyka ; depth-resolved measurement ; compression displacement field ; wavenumber-scanning interferometry ; epoxy
Description:Optica Applicata, Vol. 48, 2018, nr 2, s. 311-323
Publisher:Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Place of publication: Date: Resource Type: Resource Identifier: Source:<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Language: Relation:Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 48, 2018 ; Optica Applicata, Vol. 48, 2018, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Rights:Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Access Rights:Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Location: