Tytuł:

Application of spatially resolved thermoreflectance for the study of facet heating in high power semiconductor lasers

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Autor:

Bugajski, Maciej ; Ochalski, Tomasz ; Piwoński, Tomasz ; Wawer, Dorota

Współtwórca:

Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja

Temat i słowa kluczowe:

optyka ; thermoreflectance ; semiconductor lasers

Opis:

Optica Applicata, Vol. 36, 2006, nr 2-3, s. 339-349

Abstrakt:

We have developed a new technique for monitoring the facet heating in semiconductor lasers and for correlating these measurements with the performance and reliability of the device. The method is based on thermoreflectance, which is a modulation technique relying on periodic facet temperature modulation induced by pulsed current supply of the laser. The periodic temperature change of the laser induces variation of the refractive index and consequently modulates the probe beam reflectivity. The technique has a spatial resolution of about 1 mm and temperature resolution better than 1 K, and can be used for temperature mapping over a 300 mm × 300 mm area. It can be applied to any kind of edge emitting lasers or laser bars. The technique is crucial for understanding the thermal behavior of a device.

Wydawca:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2006

Typ zasobu:

artykuł

Źródło:

<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 36, 2006 ; Optica Applicata, Vol. 36, 2006, nr 2-3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska