Tytuł:

Skew ray tracing and error analysis of optical elements with ellipsoid boundary surfaces

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Autor:

Liao, Te-Tan

Współtwórca:

Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja

Temat i słowa kluczowe:

optyka ; skew ray tracing ; error analysis ; ellipsoid boundary surface

Opis:

Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 4, s. 677-692

Abstrakt:

Utilizing a ray tracing approach based upon Snell’s optical laws and a 4×4 homogeneous coordinate transformation matrix, this study conducts a systematic analysis of the errors induced in the paths of skew rays as they pass through an optical element with an ellipsoid boundary surface. The error analysis performed in this study considers two principal sources of light path error, namely (1) translational and rotational errors of the boundary surfaces, and (2) differential changes induced in the position of the incident ray on the boundary surface and the unit directional vector of the refracted/reflected ray as a result of changes in the position and unit directional vector of the light source. The validity of the proposed methodology is demonstrated by analyzing an optical element with an arbitrary ellipsoid boundary surface.

Wydawca:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2008

Typ zasobu:

artykuł

Źródło:

<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008 ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska